E_RS
Einleitung
Der E_RS (Event-driven RS Flip-Flop) ist ein ereignisgesteuerter, bistabiler Funktionsbaustein nach IEC 61499. Er dient als grundlegendes Speicherelement, das durch separate „Set“- und „Reset“-Ereignisse gesteuert wird. Sein Ausgang Q behält seinen Zustand bei, bis ein entgegengesetztes Ereignis eintrifft.
Schnittstellenstruktur
Ereignis-Eingänge:
S (Set): Setzt den Ausgang
QaufTRUE.R (Reset): Setzt den Ausgang
QaufFALSE.
Ereignis-Ausgänge:
EO (Event Output): Wird ausgelöst, wenn sich der Zustand von
Qändert.Verbundene Daten:
Q
Daten-Ausgänge:
Q: Der aktuelle Zustand des Flip-Flops (Datentyp:
BOOL).
Funktionsweise
Der E_RS-Baustein funktioniert als einfacher Speicher (Latch):
Setzen: Wenn ein Ereignis am Eingang
Seintrifft, wird der AusgangQaufTRUEgesetzt. WennQvorherFALSEwar, wird dasEO-Ereignis ausgelöst.Zurücksetzen: Wenn ein Ereignis am Eingang
Reintrifft, wird der AusgangQaufFALSEgesetzt. WennQvorherTRUEwar, wird dasEO-Ereignis ausgelöst.Speichern: Zwischen den Ereignissen behält
Qseinen zuletzt gesetzten Zustand bei.
Technische Besonderheiten
Keine Priorisierung (Dominanz): Im Gegensatz zur IEC 61131-3 wird in der IEC 61499 nicht zwischen setz-dominant (SR) und rücksetz-dominant (RS) unterschieden. Treffen
S- andR-Ereignisse quasi gleichzeitig ein, bestimmt die Verarbeitungsreihenfolge der Laufzeitumgebung, welches Ereignis „gewinnt“. Der letzte verarbeitete Befehl bestimmt den Endzustand.Änderungserkennung: Der
EO-Ausgang wird nur bei einer tatsächlichen Zustandsänderung ausgelöst, nicht, wenn der Baustein in seinen bereits aktiven Zustand gesetzt wird (z.B. einS-Ereignis beiQ=TRUE).
Anwendungsszenarien
Start/Stopp-Logik: Ein „Start“-Taster ist mit
Sverbunden, ein „Stopp“-Taster mitR, um den Zustand einer Maschine zu steuern.Fehlerspeicherung: Ein Fehlerereignis setzt den Baustein (
S), der den Fehlerzustand speichert, bis er von einem Bediener oder einem anderen Prozess explizit quittiert (R) wird.Modus-Speicher: Speichern des aktuellen Betriebsmodus einer Anlage (z.B. „Hand“ vs. „Automatik“).
Vergleich mit ähnlichen Bausteinen
E_SR: Funktional identisch zumE_RS, nur die Position derS- undR-Eingänge am grafischen Symbol ist vertauscht.E_D_FF: Speichert ebenfalls einen Zustand, aber taktbasiert.E_D_FFübernimmt den Wert amD-Eingang bei einemCLK-Ereignis, währendE_RSdurch separate Set/Reset-Ereignisse gesteuert wird.
Fazit
Der E_RS-Baustein ist ein fundamentaler Speicherbaustein in der IEC 61499. Er ist ideal für einfache Zustandspeicherungen, bei denen ein Zustand durch ein Ereignis gesetzt und durch ein anderes explizit zurückgesetzt wird. Das Fehlen einer garantierten Set- oder Reset-Dominanz bei gleichzeitigen Ereignissen muss in kritischen Anwendungen beachtet werden.